 | Друзья сайта |  |
|
Наша кнопка --------------
|  |
| Статистика | |
|
Онлайн всего: 1 В гостях: 1 Дома: 0 | |
|
Главная » 2017 » Август » 14 » Измерения и контроль в микроэлектронике
Измерения и контроль в микроэлектронике | 16:58 |
Измерения и контроль в микроэлектронике — В книге рассматриваются основные контрольно-измерительные операции, методы и средства контроля, используемые при производстве интегральных микросхем. Для формирования у студентов единого подхода к вопросам измерения и контроля материал пособия излагается на основе действующих государственных и отраслевых стандартов. С этой же целью в нем рассматриваются главные понятия из области метрологии и основы технологии изготовления интегральных микросхем.
Название: Измерения и контроль в микроэлектронике
Автор: Дубовой Н. Д., Осокин В. И., Очков А. С. и др.
Издательство: Высшая школа
Год: 1984
Страниц: 367
Формат: PDF
Размер: 13,39 МБ
Качество: Отличное
| |
Просмотров: 89 |
Добавил: pmojka
| Рейтинг: 0.0/0 |
Добавлять комментарии могут только зарегистрированные пользователи.[ Регистрация | Вход ]
|
|
|
