 | Друзья сайта |  |
|
Наша кнопка --------------
|  |
| Статистика | |
|
Онлайн всего: 16 В гостях: 16 Дома: 0 | |
|
 | |  |
Главная » 2017 » Март » 28 » Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий
Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий | 11:07 |
Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий — В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупроводниковых изделий по уровню надежности.
Наряду с анализом тепловых моделей ППИ представлены новые оригинальные методы диагностического контроля их качества по теплоэлектрическим характеристикам, в частности методы контроля качества светоизлучающих диодов по частотным и токовым зависимостям модуля теплового импеданса и токовым зависимостям теплового сопротивления.
Рассчитана на специалистов электронной и радиоэлектронной отраслей промышленности, а также на студентов и аспирантов соответствующих специальностей.
Название: Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий
Автор: Горлов М. И., Сергеев В. А.
Издательство: Ульяновск: УлГТУ
Год: 2015
Страниц: 406
Формат: PDF
Размер: 10,62 Мб
ISBN: 978-5-9795-1470-3
Качество: Отличное
| |
Просмотров: 72 |
Добавил: pmojka
| Рейтинг: 0.0/0 |
Добавлять комментарии могут только зарегистрированные пользователи.[ Регистрация | Вход ]
|
|
|
