 | Друзья сайта |  |
|
Наша кнопка --------------
|  |
| Статистика | |
|
Онлайн всего: 6 В гостях: 6 Дома: 0 | |
|
 | |  |
Главная » 2018 » Май » 17 » Теория тестирования логических устройств
Теория тестирования логических устройств | 14:14 |
Теория тестирования логических устройств — Тестирование логических устройств — активно развивающееся научноприкладное направление кибернетики, возникшее в середине прошлого столетия. Оно по праву связывается с именем С. В. Яблонского. Тематика направления группируется вокруг задач характеризации тестов и их построения и фокусируется на устройствах, представленных на макро- и структурном уровнях. В книге эта тематика раскрывается на модели логического устройства в его макровиде.
Решаются задачи описания сложности тестов для устройств, реализующих булевы функции из классов Поста, а также функции k-значной логики. Приводятся соответствующие процедуры построения таких тестов.
Для студентов, аспирантов и специалистов в области надежности и контроля управляющих систем.
Название: Теория тестирования логических устройств
Автор: Кудрявцев В. Б., Гасанов Э. Э., Долотова О. А., Погосян Г. Р.
Издательство: Физматлит
Год: 2006
Страниц: 159
Формат: PDF
Размер: 10,07 МБ
ISBN: 978-5-9221-0727-3
Качество: Отличное
| |
Просмотров: 79 |
Добавил: pmojka
| Рейтинг: 0.0/0 |
Добавлять комментарии могут только зарегистрированные пользователи.[ Регистрация | Вход ]
|
|
|
